一、Wide Laser Beam Imager

Ophir 寬光束成像儀附件是一種緊湊、經(jīng)過校準的光學系統(tǒng)，用于測量 VCSEL、LED、邊發(fā)射激光器和光纖激光器的大光束和發(fā)散光束的尺寸和功率分布。它采用 45 毫米擴散板，光源發(fā)出的光束投射到該擴散板上。然后，該圖像縮小 8 倍，并重新成像到相機焦平面上。VCSEL、LED 和光纖激光器用于許多敏感應用。為了保證設備的高質量，必須分析光束輪廓，但這些寬而發(fā)散的光束對測量系統(tǒng)提出了特定要求：

● 傳統(tǒng)光束分析儀的孔徑太小，無法收集大型或發(fā)散光源的整個光斑。

● 常規(guī)探測器無法準確測量發(fā)散光束，因為探測器的量子效率高度依賴于入射角。WB-I 緊湊、堅固且便攜的設計使客戶能夠在現(xiàn)場對 VCSEL 和 LED 系統(tǒng)進行光束分析，以及在生產(chǎn)線和研發(fā)實驗室進行操作。

● 與標準光束輪廓儀傳感器的 15° 相比，由于可以進行高達 70° 的角度測量，發(fā)散光束測量得到了顯著改善。

● WB-I 附件與相機和 BeamGage 軟件配合使用，可提供實時光束形狀分析?？梢暂p松檢測到由于不同電流而導致的光束形狀變化。

● 通過一組可互換的濾光片或光圈，可變衰減能夠測量不同發(fā)射功率的各種光源。

二、規(guī)格參數(shù)

三、應用

用于以下領域的研發(fā)、生產(chǎn)和服務：數(shù)據(jù)電信、汽車、遙感、人臉和手勢識別

典型測量：遠場能量分布、發(fā)散、LIV 掃描測試 VCSEL(光束輪廓與電流 (A))

四、應用示例

VCSEL 能量分布直接取決于電流、脈沖寬度和重復率以及器件溫度等參數(shù)。因此，在制造過程的各個階段以及研發(fā)和現(xiàn)場服務中測量 VCSEL 的角度分布至關重要。LIV 掃描測試中的 VCSEL 行為：當僅施加低電流時，VCSEL 處于所謂的“LED 模式"。一旦施加到 VCSEL 的電流上升，其光束輪廓就會變?yōu)椤凹す饽Ｊ?：

高分辨率寬光束成像儀WB-I

高分辨率寬光束成像儀WB-I