更新時(shí)間：2024-10-12
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址：深圳
一、產(chǎn)品介紹
激光光斑光束質(zhì)量分析儀BLC1515經(jīng)過內(nèi)部光學(xué)系統(tǒng)，將其傳輸?shù)?4.3 * 14.3 mm CMOS大靶面，可測試光束波長范圍為300-1100nm，待測聚焦光斑直徑從最小35 μm到 14.3mm。
通過軟件軟件可以顯示光斑橫截面的二維或者三維強(qiáng)度分布擬合圖，同時(shí)可以顯示光斑的兩維方向的尺寸、橢圓度、相對(duì)位置、強(qiáng)度等量化數(shù)據(jù)等其它功能。
二、產(chǎn)品規(guī)格
| 型號(hào) | BLC1515 |
| 波長 | 300-1100nm |
| 感光面積 | 14.3x14.3mm |
| 可測光斑 | 35μm-14.3mm |
| 像素 | 3.5um |
| 分辨率 | 4096x4096 |
| 位深度 | 12bit |
| 幀數(shù) | 5 |
| 曝光時(shí)間 | 20μs - 500ms |
| 增益 | 0 - 36 dB |
| 觸發(fā) | 軟觸發(fā)/硬觸發(fā)可選 |
| 飽和強(qiáng)度 | 40u W/cm2@ 633nm 600puW/cm2@1064nm |
| 靈敏度 | 0.3nw/cm2 |
| 工作溫度 | 0-50°C |
| 尺寸 | 29x29x45mm |
| 工作模式 | 全局快門 |
| 接口 | USB3.0 |
| 類型 | CMOS |
三、公司介紹
深圳市博納德自主研發(fā)的光斑分析儀是基于高分辨率 CCD和CMOS面陣型光斑測量儀是一款能夠?qū)崟r(shí)測量連續(xù)或脈沖激光束的實(shí)時(shí)診斷系統(tǒng)。產(chǎn)品波長范圍覆蓋266 ~17O0mm，像素最小達(dá)到2.5*2.5u m，探測器面積最大可達(dá)25*25mmLaserCheck 系列光斑分析儀不僅能實(shí)時(shí)顯示激光2D/3D圖像，導(dǎo)出光強(qiáng)分布數(shù)據(jù)，且提供激光束參數(shù)實(shí)時(shí)演示和分析能力，具體測量的參數(shù)包括:光束直徑、光斑的形狀、位置、功率、強(qiáng)度分布、橢圓度等眾多參數(shù)，同時(shí)還提供了報(bào)表功能，記錄光束分析設(shè)置和可實(shí)現(xiàn)激光光斑質(zhì)量檢測、光斑大小、光斑點(diǎn)穩(wěn)定性、一維、二維、三維能量分布等多參數(shù)測量,純中文操作界面，直觀友好，功能非常強(qiáng)大。
14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515
14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515
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